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HAST 試驗箱 壓力老化箱 HAST試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能

HAST高溫高濕高壓老化箱 HAST試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能，廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。

HAST壽命試驗箱 高加速溫度和濕度壓力 HAST 壽命試驗箱，又稱高壓加速老化試驗箱，主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性。在設定的溫度、相對濕度和壓力條件下，將待測樣品暴露于非冷凝的高溫高濕環(huán)境中，以加速其老化過程。通過準確控制試驗箱內(nèi)的環(huán)境參數(shù)，可以在短時間內(nèi)模擬出產(chǎn)品可能經(jīng)歷的數(shù)十年甚至更長時間的自然老化過程。

PCT 高壓加速老化試驗箱 氣壓濕度款 具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運輸，使用時的適應性試驗。用于產(chǎn)品設計，改進，鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。

高壓加速老化試驗機 HT-HAST-80L 該設備主要是測試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗， 主要用于對 電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理 以及其它相關性能進行測試，測試后，通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求，以便供產(chǎn)品的設計、改進、 檢定及出廠檢驗使用。密封性能的檢測，相關之產(chǎn)品作加速